Record Identifier: | 1979 |
Class: | .S93,S87 2002 QC 176.84 |
Title: | Surface and thin film analysis: principles, instrumentation, applications |
Subject: | Thin films--Surfaces--Analysis |
Subject: | Electron spectroscopy |
Subject: | Spectrum analysis |
Publisher: | Weinheim,2002,Wiley |
Publish place: | Weinheim |
Publisher: | Wiley |
Publish Date: | 2002 |
شماره ثبت | نسخه | جلد | بخش | مرجع | شماره بازیابی | در دست امانت | تاریخ بازگشت | ملاحظات | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
1718 | 2 | 0 | |||||||
1479 | 1 | 0 |